РАСТРОВЫЙ ЭЛЕКТРОННЫЙ МИКРОСКОП «JEOL» JSM-6490LA

 

 

Используется для определения химических элементов в диапазоне от Be до U, минералогического состава сырья рудных и нерудных месторождений, содержания базовых металлов и токсичных материалов. Смонтирован энерго-дисперсионный спектрометр (EDS), микроанализ широко применяемый для определения элементного состава образцов.

 

Технические характеристики:

Ускоряющее напряжение

от 0,3 до 30 кВ

Диапазон увеличений

от ×5 до ×300 000

Тип катода

вольфрамовый (W) или из гексаборида лантана (LaB6)

 

Дополнительное оборудование: установка ионного травления поперечных срезов, установка напыления проводящих покрытий, устройство для подготовки образцов: резки, шлифовки, полировки.