ЗОНДОВЫЙ СКАНИРУЮЩИЙ МИКРОСКОП

«NT-MDT» SOLVER PRO-M

 

 

Предназначен для исследования нанообъектов со сверхвысоким пространственным разрешением. Solver PRO-M позволяет исследовать профиль поверхности образцов с площадью до 100x100 мкм. Микроскоп реализован по принципу модульности, что позволяет легко переконфигурировать его под нестандартные задачи.

 

Технические характеристики:

Разрешение

до 1 нм

Измерительные головки

SMENA (образцы любого размера и любой толщины), универсальная сканирующая туннельная (режим туннельного тока)

Минимальный шаг сканирования

0,01 нм